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Strumentazione

Apparecchiature in dotazioneSettore analisi

- Microscopio elettronico a scansione (SEM) Ziess DSM 940 dotato di:
. detector SE
. detector BSE
- Sistema di microanalisi Oxford Link INCA EDX Detector
- Fotomicroscopio ottico a fluorescenza ed a luce polarizzata Zeiss Axioplan 2 motorizzato e computerizzatoSettore preparativa

- Sputter coater Emitech K550 per la copertura in oro e al carbone;
- Critical point drier Emiteck K85


Ultimo aggiornamento di questa pagina: 10-NOV-10
 

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