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Apparecchiature in dotazioneSettore analisi- Microscopio elettronico a scansione (SEM) Ziess DSM 940 dotato di:
. detector SE . detector BSE - Sistema di microanalisi Oxford Link INCA EDX Detector
- Fotomicroscopio ottico a fluorescenza ed a luce polarizzata Zeiss Axioplan 2 motorizzato e computerizzato
Settore preparativa- Sputter coater Emitech K550 per la copertura in oro e al carbone;
- Critical point drier Emiteck K85
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